JEOL JSM-6510QSEM

Hersteller:

Jeol 6510 (Typ JSM 6510)

Spezifikationen:

• hochauflösendes Kompakt-REM - integriertes energiedispersives Röntgenanalysesystem (EDX)
• Probendurchmesser: max. 150 mm
• Vergrößerungsbereich lt. Hersteller: x5 bis x300.000

Anwendung:

• Abbildung der Oberfläche
• Ermittlung von Oberflächenstruktur und -zusammensetzung (in Kombination mit EDX-Analyse siehe Bruker Quantax EDS)